分析技術 TECHNOLOGY

波長分散型 X線分析装置(WDX)

設備名波長分散型蛍光X線分析装置(WDX)
メーカーオックスフォード・インストゥルメンツ
型式Wave
仕様
  • [検出可能元素] Be(4)~Pu(94)
  • [分解能] SiKα <2eV, FeKα <25eV
  • マッピング:スペクトラルマップ
  • ラインスキャン:線幅ラインスキャン
使用用途SEM観察領域(微小領域)での、元素の定性/定量分析

WDXは、試料表面の微小部の元素分析を行う装置です。
走査電子顕微鏡と同様、電子ビームを試料にあてると、特性X線が試料から飛び出します。この特性X線は元素の種類により固有の波長を有しています。これらの特性X線を分光することにより、試料に含まれている元素を知ることができ、定量分析も可能となります。
マッピング機能により、元素の分布状態を確認することができます。
WDXではEDXよりも高いスペクトル分解能が得られるため、構成元素のエネルギー値が近接している試料や、より微量成分の分析に適しています。