| 設備名 | 走査型電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | HITACHI / JEOL |
| 型式 | SU3500 / JSM-IT700HR |
| 仕様 |
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| 使用用途 | 物質表面の高倍率観察 |
| 設備名 | 走査型電子顕微鏡（SEM） |
|---|---|
| メーカー | HITACHI / JEOL |
| 型式 | SU3500 / JSM-IT700HR |
| 仕様 |
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| 使用用途 | 物質表面の高倍率観察 |
電子線を試料に照射し、放出される二次電子や反射電子などを検出することで、高倍率で試料表面の観察を行います。