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ISO/IEC17025認定範囲試験の紹介 その3「非破壊でのめっき膜厚測定」

めっきの厚さをJIS H 8501の蛍光X線式膜厚試験法によって測定します。
サンプルにX線を照射し発生する蛍光X線の量を測定することで、めっきの厚さを求める方法です。測定するめっきの種類や厚みに合わせて、検量線を作成しています。正しく測定できているかを断面膜厚によって確認し、信頼性を確認しています。認定範囲となるめっき種類と膜厚定量範囲は以下の通りとなります。

測定可能なめっき種と膜厚範囲
Niめっき 1.729μm ≦ 膜厚 ≦ 9.20μm
Crめっき 0.020μm ≦ 膜厚 ≦ 0.083μm
Znめっき 2.41μm ≦ 膜厚 ≦ 21.7μm
Snめっき 1.155μm ≦ 膜厚 ≦ 9.41μm
Auめっき 0.050μm ≦ 膜厚 ≦ 0.863μm

★ この試験方法は、非破壊でスピーディーに膜厚を測れることが特長です。
・ 壊すことができないサンプルに(製品の出荷検査や高価な品物の調査など)
・ 多量のポイントを測定したい場合に(面内ばらつきの調査やn数が必要な場合など)

※ 断面から膜厚を測定する破壊式の測定方法を「その4」紹介します


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ISO/IEC17025認定範囲分析

テーマ:キラりと光る分析力    【 2012年05月30日 】