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<受託分析>不良解析事例−第2回「光沢ムラ」その2掲載いたしました

めっきの不具合について、事例を踏まえてご紹介します。
不良モードごとに御説明します。

今回は第2回「光沢ムラ」について、
発生する原理やその事例を3回に分けて更新しております。

今回はその2、局部的なピット発生についての解析事例をご紹介します。

ピットとはめっき皮膜の凹みのことで、実体顕微鏡や、場合によっては目視でも異常が分かるような大きさです。
特に電解めっきでよく見られるこの現象について、事例を挙げて説明いたします。

次回はもう一つ、光沢ムラの事例をご紹介します。


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不良解析

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受託分析

テーマ:キラりと光る分析力    【 2012年11月26日 】