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2013 SEM Users Meetingにて、当社の解析について講演いたします。

2013 SEM Uses Meetingにて、当社の解析について講演いたします。
SEM、FIB、CPを活用した解析事例について報告いたします。

2ヵ所での開催となっており、当社は両方での講演となっております。

開催詳細は以下の通りです。

【開催日時】2013/7/5・・・東京大学 工学部 武田先端知ビル5F (東京)
      2013/7/18・・・千里ライフサイエンスセンター5F (大阪)

【講演内容】ナノめっき技術開発及び不具合解析

お問い合わせ:日本電子株式会社


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テーマ:キラりと光る分析力    【 2013年06月24日 】